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TOF-SIMS (이차이온질량분석기)를 활용한 표면분석 시험

TOF-SIMS (이차이온질량분석기)를 활용한 표면분석 시험

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작성자 관리자 작성일 2009-02-02
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저희 FITI 시험연구원을 찾아 주시는 고객 여러분 안녕하십니까?

저희 연구원은 재료 표면의 특성을 분석할수 있는 초정밀 표면분석장비를 국내 최초로 도입하였습니다.

제품의 중요 특성을 결정하는 표면에서 발생될 수 있는 오염, 황변, 부식, 품질불량 등의 문제점을 보다 정밀하게 분석하여 근원적인 해결책을 제공할 수 있게 되었습니다.

표면분석 장비들, 폭넓은 분석기술, 경험있는 분석자들, 많은 SIMS 표준물질 라이브러리와 함께, FITI는
고객들의 관심 대상인 재료들의 분석과 문제 해결을 돕는 데 주력하고 있습니다.

FITI의 폭넓은 분석기술과 서비스, 소비자 중심의 상담서비스, 기술기반은 여러분이 새로운 프로세스와
물질들을 더욱 빠르게 개발하고, 이러한 프로세스를 생산으로 연결하고, 합격 불합격의 문제점을 해결할
수 있도록 돕고 있습니다.

■ TOF-SIMS를 활용한 표면특성

1) Surface Spectrum : 표면의 대상물질 확인
2) Surface Imaging : ppm 수준의 물질 분포도
3) Depth Profiling : 1 nm ~ 1 µm 깊이의 물질분포
4) Elemental and Molecular Imaging : 표면 또는 단면의 3D 이미지 맵
6) FITI는 일반분석 외에도 다양한 컨설팅/표준화 프로그램에 적극적으로 참여하고 있습니다.
▷ 문제 해결을 위한 원인분석
▷ 상업적인 책임분쟁 해결을 위한 법원감정
▷ 신규평가표준 개발
▷ 국제표준화활동