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주요사업

반도체

반도체 신뢰성 시험이란?

반도체 소자가 실제 사용 환경에서 얼마나 오래, 안정적으로 작동할 수 있는지를 평가하는 일련의 과정입니다. 고온, 저온, 습도, 전압 등 다양한 스트레스 조건을 가하여 반도체의 내구성과 수명을 예측하고, 제품의 품질을 보증하기 위한 필수적인 절차입니다.

시험항목

  • 정전기시험

    • 시험목적 : 정전기 방전(ESD)에 의해 손상될 가능성을 평가하고 안정적으로 작동하는지 확인하는 시험
    • 시험항목 : HBM, MM, CDM, Latch up(I-Mode), Latch up(VDD-VSS) 등

  • 환경내구시험

    • 시험목적 : 다양한 환경 조건에서 안정적으로 작동하는지 확인하는 시험
    • 시험항목 : HTOL(High Temperature Operation Life), LTOL(Low Temperature Operation Life), TC(Temperature Cycle), uHAST(Unbiased Highly Accleratred Stress Test) 등

  • 불량분석

    • 시험목적 : 제품의 성능결함에 대한 원인을 규명하고 개선하기 위해 고장요인을 분석하는 시험
    • 시험항목 : Delamination, Decap, SEM/EDS, X-RAY, Cross section 등

주요규격

JESD22-A104, JESD22-A108, JESD22-A101, JED22-A115, JESD78E, JEDEC JS-002 AEC Q 100 등

주요설비현황

  • 정전기 보호성능 평가장비(ESD)

    • Output Voltage : (0.2 ~ 30) kV
    • Polarity : Positive or negative
    • Rise time : (0.7 ~ 1) ns
    • Discharge mode : Air discharge and contact discharge
    • Mode : HBM(Human Body Mode), MM(Machine Mode), Latch-up

  • CDM 보호성능 평가장비

    • System 시험모델 : 필드/다이렉트 충/방전방식의 CDM 방식
    • 고전압 공급범위 : 4 kV 또는 그 이상
    • CDM 시험 전압 범위 : ± (25 ~ 2,000) V (1 V step)
    • 시험 가능한 Area : > (10 x 10) cm

  • HTOL 내구시험기

    • Socket 및 Main board 구성을 통한 시험 진행
    • Heater : 24 kW(12 kW x 2 chamber)
    • Maximum peak voltage at 3,000 V
    • Maximum peak current 1,000 A

  • 초음파시험기(SAM)

    • Flatness(ASF) : Flatness, warpage and tilt measurements with C-SAM
    • Polygate : Multi-Gate / Single Focus (MG/SF)
    • Transducer : 15 MHz/-.75FL in water, 30 MHz/0.5FL, 75 MHz/0.5FL

  • 광학현미경(Optical Scope)

    • 배율 : (10 ~ 1,000) x
    • Pixel : 5,000,000

  • X—ray 시험기

    • 전압 : 160 kV
    • 배율 : 2,400 x
    • Focal spot size : 1 ㎛

  • 주사전자현미경(SEM/EDS)

    • 배율 : (2 ~ 1,000,000) x
    • Resolution : 3 nm at 30 keV(SE), 3.5 nm at 30 keV(BSE)
    • EDS : 성분분석

절차안내

  • 01

    시험 상담

  • 02

    견적 검토

  • 03

    접수

  • 04

    시험 진행

  • 05

    성적서 발급
    (수수료 납부)

  • 06

    완료

관련자료

담당자안내

부서, 직위/직책, 성명, 담당업무, 전화번호, 메일로 구성된 표
부서 직위/직책 성명 담당업무 전화번호 메일
전장부품팀 팀장 강주형 전장부품팀 총괄 043-711-8939 kjhwngud@fiti.re.kr
전장부품팀 책임연구원 박추운 충주시험센터 운영·관리 및 기반구축 과제 R&D 수행, 시험 상담 043-843-2997 eorkfl3@fiti.re.kr
전장부품팀 선임연구원 전무익 반도체 시험 상담 및 견적 문의 043-843-2995 muikjeon@fiti.re.kr