기업지원 서비스
기업지원 서비스란?
다양한 시험·분석기기를 바탕으로 제품의 품질 향상, 고장 요인 해결 등을 위한 체계적인 분석 서비스를 제공합니다.
업무안내
표면분석
- FITI시험연구원의 첨단 표면분석 장비와 기술을 활용한 제품에 대한 기술력 향상 및 글로벌 경쟁력 확보 지원
- 섬유/고분자 소재를 비롯한 플라스틱, 금속, 전기전자 및 전장품 등 다양한 산업분야 아이템에 대한 분석기술을 바탕으로 기업체 애로사항에 대한 기술지원
- 분석 기기 목록
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XPS
- 섬유/고분자, 금속, 반도체 등 일반 소재부터 첨단 소재까지 다양한 소재에 대한 표면 또는 일정 깊이에 대한 원소 성분 분석이 가능한 장비
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통합형 적외선분광계
- 적외선을 통한 미세 유기 시료 정성 분석이 가능한 장비이며, 현미경 기능으로 원하는 영역을 Target하여 분석할 수 있는 장비
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동시열분석기 (TGA/DSC)
- RT~1600℃ 온도범위에서 가열하면서 발생하는 시료의 열분해 과정을 수행하여 중량변화, 온도 안정성 등 중량분석기능 및 고분자화, 결정화도, 유리전이 등의 분석이 가능한 장비
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3D 이미지분석 시스템
- 다각도/다초점 측정이 가능한 광학 현미경 장비로, 직물, 섬유, 폴리머/세라믹 복합소재 등 다양한 소재의 표면 측정이 가능한 장비
- Correlative Microscopy 기술을 활용하여 Micro~Nanoscale의 분석 연계가 가능
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3차원 표면분석기
- 광학을 통해 확대된 표면 측정이 가능하며, 레이저를 통해 정밀한 표면 거칠기 분석이 가능한 장비
- Correlative Microscopy 기술을 활용하여 Micro~Nanoscale의 분석 연계가 가능
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고성능 3D X-ray 표면분석기
- X-ray를 통해 Microscale까지 비파괴로 표면/내부 측정이 가능한 장비이며, In-situ 장비를 통해 인장 혹은 압축을 인가하여 하중에 의한 구조 변형을 측정할 수 있는 장비
- Correlative Microscopy 기술을 활용하여 Micro~Nanoscale의 분석 연계가 가능
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3차원 파괴분석 저온전자 현미경 (FIB-SEM)
- 시료 표면을 Nanoscale까지 측정할 수 있는 장비이며, 극저온 환경 구성이 가능한 Cryo 기능을 통해 손상을 최소화한 유기물질에 대한 측정도 가능함
- FIB Beam을 통해 시료를 깎아서 정밀 내부 분석까지 가능하며 Correlative Microscopy 기술을 활용하여 Micro~Nanoscale의 분석 연계가 가능
고장원인분석
- 고장 및 문제현상에 대한 원인 규명을 통해 제조 공정, 보관, 유통과정에서 발생한 고장 현상을 파악하여 고장 원인을 개선하여 제품 하자 발생을 방지하여 제품 품질 개선에 이바지
- 분석 서비스의 종류
- 분석 서비스 분야
- 분석 서비스 절차
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01
상담
- 불량제품과 정상제품 제시
- 제조공정별 발생원인 상담
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02
신청 접수
- 신청서 작성
- 발급예정일 안내
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03
불량원인추정
- 시험항목, 시험방법 선정
- 시험항목별 시료 준비
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04
시험
- 원인 분석 규명 시험
- 상담후 일반분석으로 전환
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05
시험 결과 검토
- 불량현상과 재현성 결과 비교
- 수수료 산정 및 견적서 발송
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06
최종보고서 작성
- 원인분석 및 종합의견 작성
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07
최종보고서 검토
- 최종보고서 검토 및 승인
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08
수수료 수납
- 수수료 수납 및 세금계산서 발행
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09
최종보고서 발급
- 처리기간 : 접수일로부터 3~4주
- 수수료 : 기본수수료+추가수수료(기간 및 수수료는 원인규명의 범위, 기 접수현황에 따라 변동 될 수 있음)
법원감정
- 감정이란 소송과정에서 특수한 사실의 판정이 필요할 때, 법원의 명령에 따라 전문가(기술사)로 하여금 사물의 진위, 양부, 가치 등에 대한 판단을 진술하는 일
- 법원감정 서비스 분야
- 감정 업무 절차

담당자안내
부서 | 직책 | 성명 | 담당업무 | 전화번호 | 메일 |
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신뢰성연구센터 | 선임연구원 | 서동완 | 표면분석 및 고장원인분석 업무 수행 | 02-3299-8139 | sdw5367@fiti.re.kr |