분석시험
분석시험이란?
자동차 전장부품의 핵심 구성 요소인 PCB의 고장은 차량의 성능 저하 및 안전 문제를 야기할 수 있습니다. 고장분석은 이러한 문제의 근본 원인을 규명하고, 재발 방지를 위한 개선 방안을 도출하는 과정입니다. 현미경 검사, X-RAY 분석, 열분석 등 다양한 분석기법을 통해 Solder Crack, Delamination, Short circuit 등의 고장 매커니즘을 규명하고, 설계 및 제조 공정상의 문제점을 파악하여 제품의 신뢰성을 향상시킵니다.
시험항목
주요규격
ES90000-01/02/03/04/05, MS184-01/02, ES91500-00/02/20, GMW3172, GMW3191, SES E 060-07 등
주요설비현황
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광학현미경(Optical Scope)
- 배율 : (10 ~ 1,000) x
- Pixel : 5,000,000
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초음파시험기(SAM)
- Flatness(ASF) : Flatness, warpage and tilt measurements with C-SAM
- Polygate : Multi-Gate / Single Focus (MG/SF)
- Transducer : 15 MHz/-.75FL in water, 30 MHz/0.5FL, 75 MHz/0.5FL
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X—ray 시험기
- 전압 : 160 kV
- 배율 : 2,400 x
- Focal spot size : 1 ㎛
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주사전자현미경(SEM/EDS)
- 배율 : (2 ~ 1,000,000) x
- Resolution : 3 nm at 30 keV(S5E), 3.5 nm at 30 keV(BSE)
- EDS : 성분분석
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만능재료시험기(UTM)
- 하중범위 : (0 ~ 10,000) kgf
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내전압 및 절연저항 시험기
- AC내전압 : (100 ~ 5,000) V AC / (0.001 ~ 40) mA
- DC내전압 : (100 ~ 6,000) V DC / (0.001 ~ 10 ) mA
- 절연저항 : (50 ~ 1,000) V DC / (1 ~ 9,999) MΩ
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디지털멀티미터
- AC전압 : 100 mV ~ 750 V AC
- DC전압 : 100 mV ~ 750 V DC
- AC전류 : 100 mA ~ 10 A AC
- DC전류 : 100 ㎂ ~ 10 A DC
- 저항 : 100 Ω ~ 100 MΩ
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LCR미터
- Z : ± (0.00 mΩ ~ 9.99999 GΩ)
- Rdc : ± (0.00 mΩ ~ 9.99999 GΩ)
- Ls, Lp : ± (0.00000 µH ~ 9.99999 GH)
- Cs, Cp : ± (0.0000 pF ~ 9.99999 GF)
- G, B : ± (0.000 nS ~ 9.99999 GS)
- Y : ± (0.000 nS ~ 9.99999 GS)
- X : ± (0.00 mΩ ~ 9.99999 GΩ)
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저저항 측정기
- 범위 : 10 nΩ ~ 1,000 MΩ
절차안내
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01
시험 상담
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02
견적 검토
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03
접수
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04
시험 진행
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05
성적서 발급
(수수료 납부) -
06
완료
관련자료
담당자안내
| 부서 | 직책 | 성명 | 담당업무 | 전화번호 | 메일 |
|---|---|---|---|---|---|
| 전장부품팀 | 팀장 | 강주형 | 전장부품팀 총괄 및 기술지원 | 043-711-8939 | kjhwngud@fiti.re.kr |
| 전장부품팀 | 책임연구원 | 송진아 | 전장부품 시험평가 및 연구개발 수행 | 043-711-8901 | jinasong@fiti.re.kr |
| 전장부품팀 | 선임연구원 | 박정준 | 전장부품 시험평가 및 연구개발 수행 | 043-711-8904 | pjj5626@fiti.re.kr |
| 전장부품팀 | 선임연구원 | 이하경 | 전장부품 시험평가 및 연구개발 수행 | 043-711-8908 | hklee@fiti.re.kr |
| 전장부품팀 | 선임연구원 | 전무익 | 전장부품 시험평가 및 연구개발 수행 | 043-711-8743 | muikjeon@fiti.re.kr |